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Cassification
固體薄膜測(cè)試儀與普通光度計(jì)的區(qū)別
固體薄膜測(cè)試儀,測(cè)試平臺(tái)超大倉平臺(tái)式設(shè)計(jì),平行測(cè)試原理 可以測(cè)試1mm--500mm尺寸的固體,
直接放上測(cè)試平臺(tái)即可,平穩(wěn),可靠,特別是薄膜件 超薄件 平行放誤差小,方便快捷,準(zhǔn)確。
普通光度計(jì)是垂直測(cè)試,附帶樣品架,樣品架是為放盛液體的器皿擺放,放薄膜或者固體都依賴支架,夾住或者貼住 樣品,這樣存在誤差,另外普通光度計(jì)樣品倉小,放薄膜固體件不能保證樣品垂直,也對(duì)樣品的大小有限制,固體薄膜測(cè)試儀 特點(diǎn)規(guī)格小 φ1.5mm -500*500mm固體、薄膜、透鏡、平板、手機(jī)攝像頭、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構(gòu)件光學(xué)性能的測(cè)定,測(cè)定范圍190-1100nm;透射比準(zhǔn)確±0.3%T 波長準(zhǔn)確度±0.3nm;雜散光≤0.02%T 狹縫可變 1. 2. 4. 5.儀器等級(jí)優(yōu)于GB/T26798-2011 Ⅱ級(jí).
開機(jī)自校;聯(lián)PC操作端;軟件版本UV9.0 win10 64位。
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